Mesure directe de l'électromigration sur des couches métalliques à l'aide de traceurs radioactifs
Overview & Synopsis
Nous avons mis au point une méthode très précise de mesure du déplacement par électromigration des atomes dans des rubans métalliques. Elle est basée sur le marquage isotopique, l'autoradiographie et le comptage de la radioactivité à travers une fente. L'incertitude relative sur le seul déplacement est égale à 1 %. La méthode a été testée avec succès sur l'électromigration dans l'indium en couche mince. La mobilité a pu ainsi être mesurée entre 100 et 150°C où elle suit la loi d'Arrhénius : µT = 3,69 x 1021 exp(- 2,00/kT) V-1.cm 2.s-1.K.
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Document Information
| Document Title | Mesure directe de l'électromigration sur des couches métalliques à l'aide de traceurs radioactifs |
|---|---|
| Author / Organization | K.V. Reddy, J.J.B. Prasad, F. Bénière |
| Subject & Discipline | Multidisciplinary Academic Open Research |
| Categories | Science & Mathematics |
| Publication Year | 1983 |
| License / Rights | Open Access / Creative Commons |
| Resource Verification | Listed PDF (Verification Pending) |
| Original Host Website |
HAL Open Science
(hal.science)
|
| File Format | application/pdf (Portable Document Format) |
| Language | EN |
| Catalog ID | DOC-5254 |
| Original Source Link | Visit Source Page on hal.science » |