Réalisation d'un spectromètre infrarouge pour l'analyse comparative de l'émissivité directionnelle des surfaces

Overview & Synopsis

Nous décrivons un spectromètre infrarouge parfaitement adapté à la mesure de faibles variations dans l'émissivité monochromatique directionnelle des surfaces métalliques. Le spectre étudié s'étend de 0,5 μm à 10 μm pour des températures d'échantillon situées entre 400 K et 1 000 K. L'excellente résolution relative même pour des facteurs radiatifs faibles (4 % à ε = 0,2 pour 2 μm < λ < 4 μm) est obtenue en comparant l'énergie émise par les faces d'un ruban métallique. Dans cette configuration, la différence en température (< 10-3 K) entre les deux échantillons à comparer devient négligeable. L'ensemble complet, source-détecteur, est monté sous ultra vide. Le système optique assure la comparaison des énergies émises sous des angles solides et des angles d'émission rigoureusement identiques. De plus cet appareil est suffisamment pratique pour permettre la mesure systématique de faibles variations d'émissivité conséquence, par exemple, d'une faible modification d'un paramètre de surface comme la rugosité ou l'épaisseur d'un dépôt.