Etude par microanalyse aux rayons X des migrations d'argent dans Ag 2 Te
Overview & Synopsis
Dans le cas où les structures M-Ag2Te-M sont soumises à des champs suffisamment importants pour atteindre une mémorisation définitive des états de haute ou de faible conductivité, on étudie le tracé du profil de concentration en Argent par microanalyse aux rayons X sur un microscope à balayage. Les résultats confirment l'hypothèse d'une migration ionique introduite pour rendre compte de l'allure des caractéristiques I-V des couches minces d'Ag2Te, qui varie avec la nature et la forme des électrodes.
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Document Information
| Document Title | Etude par microanalyse aux rayons X des migrations d'argent dans Ag 2 Te |
|---|---|
| Author / Organization | J.C. Bernède, Y. Trégouet |
| Subject & Discipline | Multidisciplinary Academic Open Research |
| Categories | Science & Mathematics |
| Publication Year | 1979 |
| License / Rights | Open Access / Creative Commons |
| Resource Verification | Listed PDF (Verification Pending) |
| Original Host Website |
HAL Open Science
(hal.science)
|
| File Format | application/pdf (Portable Document Format) |
| Language | EN |
| Catalog ID | DOC-231592 |
| Original Source Link | Visit Source Page on hal.science » |