Caractérisation par microsonde électronique de couches minces de Cd 1-xZnxS pour cellules solaires

Overview & Synopsis

Des couches de Cd1-xZnxS, obtenues par une méthode d'évaporation classique à partir d'une solution solide de quelques micromètres d'épaisseur, ont été analysées grâce à une microsonde électronique de Castaing. Dans l'épaisseur des couches correspondant à x = 0,09 et 0,10, un gradient important de l'élément Zn a pu être mis en évidence et caractérisé quantitativement parallèlement aux éléments Cd et S. Les mesures effectuées sur la tranche à partir des profils d'émission X et sur la surface pour différentes énergies du faisceau incident ont été comparées et ont permis en particulier de mettre en évidence la variation des gradients lors d'un recuit thermique.